博敏电子于9月3日召开‘BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪’专家鉴定会
深圳市博敏电子有限公司定于2009年9月3日(星期四)召开“‘BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪’产品研发专家鉴定会”。
鉴定会由深圳市线路板行业协会主持,深圳市博敏电子有限公司主办,并邀请辛国胜(SPCA会长)、阮成礼(教授)、林金堵(教授)、邬宁彪(高工)、梁志立(高工)、王恒义(高工)、杨维生(高工)、杨兴全(高工)等参与鉴定。
随着线路板对信号传输要求越来越高,能够满足其阻抗要求的阻抗测试仪应运而生。本次鉴定会上,博敏电子将向与会专家介绍其“BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪”的产品技术创新点、主要性能指标、产品与国外知名产品的分析比较,以及产品的市场潜力分析。